典型应用：

• 各种器件的I-V功能测试和特征分析，包括：




• 分立和无源元件




• – 两抽头器件——传感器、磁盘驱动器头、金属 氧化物可变电阻（MOV）、二极管、齐纳二极 管、电容、热敏电阻




• – 三抽头器件——小信号双极结型晶体管（BJT）场效应晶体管（FET），等等




• 简单IC器件——光学器件、驱动器、开关、传感 器、转换器、稳压器




• 集成器件——小规模集成（SSI）和大规模集成（LSI） – 模拟IC




• – 射频集成电路（RFIC）




• – 专用集成电路（ASIC）




• – 片上系统（SOC）器件




• 光电器件，例如发光二极管（LED）、激光二极管高亮度LED（HBLED）、垂直腔面发射激光器 （VCSEL）、显示器




• 圆片级可靠性




• – NBTI、TDDB、HCI、电迁移




• 太阳能电池




• 电池




• 更多…

一、 通用设置 ：     

• 1.NPLC    




• 2.接线方式（2、4线制）    




• 3.自动调零




• 4.滤波




• 二、单阶恒流输出测量（BiasIMeasureV-Single）




• 三、单阶恒压输出测量（BiasVMeasureI-Single）




• 四、多阶恒流输出测量（BiasIMeasureV-Steps）  




• 五、多阶恒压输出测量（BiasVMeasureI-Steps）  




• 六、分段电流扫描（SweepIMeasureV-Section）  




• 七、分段电压扫描（SweepVMeasureI-Section）  




• 八、连续电流扫描测量（SweepIMeasureV-Continuity）    




• 九、连续电压扫描测量（SweepVMeasureI-Continuity）    




• 十、双通道电流同步扫描（Dual-SweepIMeasureV）  




• 十一、双通道电压同步扫描（Dual-SweepVMeasureI）  




• 十二、波形输出-正弦波（Wave-Sine）    




• 十三、波形输出-方波（Wave-Square）    




• 十四、电化学-循环伏安（Cyclic voltammetry）测量




• 十五、电化学-多电流跃阶测量（Multi-Current Steps）  




• 十六、电化学-多电位跃阶测量（Multi-Potenital Steps）




• 十七、太阳能电池IV特性测量（Solar Cell IV）




• 十八、双通道恒流恒压测量（Dual Channel IV）-    




• 十九、直流FET-转移曲线测量（DC-FET-Transfer）




• 二十、直流FET-输出曲线测量（DC-FET-Output）  




• 二十一、脉冲FET-转移曲线测量（Pulse-FET-Transfer）    




• 二十二、脉冲FET-输出曲线测量（Pulse-FET-Output）      




• 二十三、直流FET栅极方波曲线测量（DC- FET- Gate- Square Wave）  




• 二十四、流FET漏极方波曲线测量（DC- FET- Drain- Square Wave）